測(cè)試晶體振蕩器的(如何使用示波器測(cè)試晶振?)
1.如何使用示波器測(cè)試晶振?
晶振包括無(wú)源晶振和有源晶振，通過(guò)示波器可以測(cè)量出晶振的起振波形，下面介紹測(cè)量晶振波形的方法。
1。無(wú)源晶振用示波器測(cè)量波形無(wú)源晶振在起振時(shí)兩個(gè)引腳都會(huì)有震蕩波形產(chǎn)生，用示波器探頭的負(fù)極接GND，正極接任何一個(gè)晶振引腳即可看到晶振的波形。
一般情況下，無(wú)源晶振起振的波形為正弦波，通過(guò)示波器可以看到正弦波形，測(cè)量其頻率應(yīng)和晶振的起振頻率一致。 有源晶振用示波器測(cè)量波形一般情況下，有源晶振有四個(gè)引腳，兩個(gè)供電引腳，一個(gè)輸出引腳，另一個(gè)引腳懸空或者接GND。
在測(cè)量時(shí)需要將示波器探頭的正極接輸出引腳，負(fù)極接GND。有源晶振輸出的波形有兩種：正弦波和方波。
這個(gè)主要看晶振是否集成了整形電路，如果內(nèi)部有整形電路則輸出方波，否則輸出正弦波。 測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)在測(cè)量晶振波形時(shí)，一定要注意兩個(gè)事情：1）示波器的帶寬；2）負(fù)載電容。
示波器的帶寬一定要高于晶振的起振頻率，至少5倍，否則所測(cè)量的波形存在失真。晶振對(duì)負(fù)載電容比較敏感，所以測(cè)量時(shí)要盡量減少輸入電容對(duì)測(cè)量的影響。
以上就是這個(gè)問(wèn)題的回答，感謝留言、評(píng)論、轉(zhuǎn)發(fā)。 更多精彩內(nèi)容請(qǐng)關(guān)注本頭條號(hào)：玩轉(zhuǎn)嵌入式。
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2.檢測(cè)晶振需要用到什么
一般情況下晶振兩電極間的阻值為無(wú)窮大。
首先：將萬(wàn)用表?yè)茉赗*10k擋，兩表筆分別與晶振兩電極相碰，然后觀察表頭指示，指針應(yīng)在無(wú)窮大處不動(dòng)；但是如果指針在無(wú)窮大處有輕微擺動(dòng)，就說(shuō)明石英晶體片有漏電現(xiàn)象或者是電極觸片與晶體片接觸不良，因?yàn)榻佑|不良就相當(dāng)于電極觸片在晶體片上劃動(dòng)，就會(huì)產(chǎn)生電流，所以指針會(huì)發(fā)生輕微擺動(dòng)；如果指針有偏轉(zhuǎn)，就說(shuō)明晶體嚴(yán)重漏電；如果指針指到零位，說(shuō)明晶體已擊穿損壞。另外測(cè)試時(shí)請(qǐng)注意：最好不要進(jìn)行在路測(cè)試，應(yīng)取下或焊脫一只腳后再進(jìn)行測(cè)試，否則誤差會(huì)很大，不易判斷。
3.如何校準(zhǔn) trimble 晶振的頻率
晶振分為無(wú)源晶振和有源晶振。有源晶振稱(chēng)為石英晶體振蕩器，可以直接接上電源，用頻率計(jì)測(cè)量頻率及用示波器測(cè)量幅度。
無(wú)源晶振稱(chēng)為石英晶體諧振器，其參數(shù)很多。較簡(jiǎn)易的方法，可以搭載一個(gè)振蕩電路，用頻率計(jì)測(cè)量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測(cè)量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測(cè)出準(zhǔn)確數(shù)值。
用阻抗計(jì)測(cè)量?？梢暂^容易測(cè)量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數(shù)值，并可通過(guò)計(jì)算得出其它相關(guān)參數(shù)。缺點(diǎn)阻抗計(jì)一般數(shù)度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴(yán)重影響，使串聯(lián)諧振頻率相位移較大，同時(shí)又干擾正確測(cè)量負(fù)載諧振頻率。另外，其測(cè)量有一定的局限性，只能測(cè)量質(zhì)量因數(shù)大于60以上的晶振，也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量。分為專(zhuān)用和通用兩種。專(zhuān)用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置簡(jiǎn)單，可以進(jìn)行全部晶振參數(shù)的測(cè)量，但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò)分析儀，設(shè)置較為繁雜，測(cè)量參數(shù)有限，但可以通過(guò)計(jì)算獲得。
相關(guān)測(cè)量方法及標(biāo)準(zhǔn)如下：
SJ/T 10638-1995 《石英晶體振蕩器測(cè)試方法》
GB 12274-1990 《石英晶體振蕩器總規(guī)范》
GB/T 12274.1-2012 《有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規(guī)范》
IEC 444 1973. Basic method forthe measurementof resonance frequency and equivalent series resis-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].
GB/T 12273-1996石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范 第1部分：總規(guī)范
SJ/T 11210-1999
石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第4部分：頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL的測(cè)量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算
